ReyDex misst 3D Topographie der Oberfläche

 
Von Caterina Schröder | Redaktion ATZonline.de
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06.11.2006 - 

Der Mannheimer Sensoren-Spezialist Isis-sentronics präsentiert auf der MTQ (Fachmesse für Materialprüfung, Messtechnik & Qualitätsmanagement) vom 15. bis 17. November 2006 in Dortmund die optischen Sensoren der Reihe RayDex. Diese Sensoren sind speziell für die produktionsbegleitende, berührungslose Vermessung von Freiformflächen oder Innenräumen von Präzisionsteilen entwickelt worden. Eingespannt in eine Koordinaten-Messmaschine kann dieser Sensor laut Isis-sentronics Aufgaben der 3D-Metrologie übernehmen und somit Mikrofehler (Foto), Rauheiten oder Schichtdicken von nichtmetallischen Beschichtungen bestimmen.

RayDex-Sensoren bestehen aus einem Sensorkopf mit Messnadel und einer entfernt platzierbaren "Control Unit". Je nach Sensortyp bestehen unterschiedliche Freiheitsgrade in der Bewegung. Während "RayDex f" die Messnadel komplett fixiert, lässt Typ "r" eine Rotationsbewegung zu. Typ "a" dagegen erlaubt sowohl axiale Bewegungen als die Rotation und lässt sich optional mit einer CCD Kamera (Charge-coupled Device) zur Oberflächeninspektion nahe des distalen Endes der Messnadel kombinieren. Mit Hilfe des optischen Dekodier-Verfahrens in der Kontrolleinheit werden die sich verändernden Abstände zur Oberfläche bis zu 16.000-mal in der Sekunde abgetastet. Dabei erreicht das Messsystem nach Angaben des Unternehmens über einen Messbereich von mehreren Millimetern Wiederholgenauigkeiten von bis zu 100 nm.