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Erschienen in:
Macroscopic Quantum Carrier Transport Modeling Kapitel lesen Erstes Kapitel lesen

2001 | OriginalPaper | Buchkapitel

2d Hierarchical Radio-Frequency Noise Modeling Based on a Langevin-Type Drift-Diffusion Model and Full-Band Monte-Carlo Generated Local Noise Sources

verfasst von : S. Deckert, C. Jungemann, B. NeinhÜs, B. Meinerzhagen

Erschienen in: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2001

Verlag: Springer Vienna

Enthalten in: Professional Book Archive

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An accurate and efficient 2D drift-diffusion model for thermal noise simulation based on full—band Monte—Carlo (MC) generated local noise sources is presented. Good agreement of the new model and MC device simulations is found for NMOSFETs, whereas previously developed DD based noise models fail. Verification with experiment is shown for a SiGe HBT.

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Metadaten
Titel
2d Hierarchical Radio-Frequency Noise Modeling Based on a Langevin-Type Drift-Diffusion Model and Full-Band Monte-Carlo Generated Local Noise Sources
verfasst von
S. Deckert
C. Jungemann
B. NeinhÜs
B. Meinerzhagen
Copyright-Jahr
2001
Verlag
Springer Vienna
Buch
Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2001

Print ISBN: 978-3-7091-7278-0

Electronic ISBN: 978-3-7091-6244-6

Copyright-Jahr: 2001

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-6244-6_30

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    Bildnachweise