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28.01.2016 | Ausgabe 2/2016 Open Access

Journal of Electronic Testing 2/2016

A CMOS Ripple Detector for Voltage Regulator Testing

Zeitschrift:
Journal of Electronic Testing > Ausgabe 2/2016
Autoren:
Hieu Nguyen, Cagatay Ozmen, Aydin Dirican, Nurettin Tan, Martin Margala
Wichtige Hinweise
Responsible Editor: V. D. Agrawal

Abstract

This paper presents an RMS based ripple sensor for testing of fully integrated voltage regulators. A DC signal which is proportional to the input ripple amplitude is generated. Final digital pass/fail signal is obtained with a clocked comparator. The sensor can detect a peak-to-peak ripple voltage of up to 50 millivolts on the 1.2 V supply rail and has 220 MHz bandwidth. The sensor is designed using IBM 90 nm CMOS technology and its functionality is verified in Cadence Virtuoso simulation environment.

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