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Erschienen in: Journal of Electronic Testing 1/2011

01.02.2011

A Design of Linearity Built-in Self-Test for Current-Steering DAC

verfasst von: Hsin-Wen Ting, Soon-Jyh Chang, Su-Ling Huang

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 1/2011

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Abstract

In this paper, a current-mode Built-In Self-Test (BIST) scheme is proposed for on-chip estimating static non-linearity errors in current-steering digital-to-analog converters (DACs). The proposed DAC BIST scheme is designed to verify a 10-bit segmented current-steering DAC, consist of a 5-bit coarse DAC and a 5-bit fine one. This proposed BIST scheme includes a current-mode sample-and-difference circuit to increase the sampling current accuracy and control a current-controlled oscillator (ICO). In addition, only 36 measurements are required by using the selected-code method rather than 1024 measurements for the conventionally-utilized all-code method. Compared to the conventionally-utilized all-code method, about 85-% reduction of test time can be achieved.

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Metadaten
Titel
A Design of Linearity Built-in Self-Test for Current-Steering DAC
verfasst von
Hsin-Wen Ting
Soon-Jyh Chang
Su-Ling Huang
Publikationsdatum
01.02.2011
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 1/2011
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-010-5187-2

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