A Fault Diagnosis Method of Discrete Event System Based on Binary Decision Diagram

In diesem Kapitel wird eine ausgefeilte Fehlerdiagnosemethode für diskrete Ereignissysteme vorgestellt, die Binäre Entscheidungsdiagramme (BDDs) verwendet. Er beginnt damit, die entscheidende Bedeutung einer effektiven Fehlerdiagnose bei der Verhinderung katastrophaler Ereignisse in Branchen wie der Luft- und Raumfahrt hervorzuheben. Traditionelle Diagnosemethoden wie Expertensysteme und Fehlerbäume werden ebenso diskutiert wie ihre Grenzen. Das Kapitel befasst sich dann mit der Entwicklung modellbasierter Diagnostik (MBD) und ihrer Anwendung in diskreten Ereignissystemen, die als Brücke zwischen statischer und dynamischer Systemdiagnose dienen. Der Kern des Kapitels konzentriert sich auf die BDD-Methode, die die Anzahl der für die Modellierung benötigten Variablen deutlich reduziert und damit Weltraumexplosionsprobleme vermeidet, die in großen Systemmodellen üblich sind. Der abstrakte BDD-Algorithmus und der Diagnosealgorithmus sind detailliert und bieten einen schrittweisen Ansatz zur Modellierung und Diagnose von Systemausfällen. Das Kapitel schließt mit einer Darstellung der Vorteile der BDD-Methode in Bezug auf zeitliche und räumliche Komplexität, die eine solide theoretische Grundlage für zukünftige Fehlerdiagnoseforschung bietet.