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01.04.2015 | Ausgabe 2/2015

Journal of Electronic Testing 2/2015

A Shift-Register Based BIST Architecture for FPGA Global Interconnect Testing and Diagnosis

Zeitschrift:
Journal of Electronic Testing > Ausgabe 2/2015
Autoren:
Igor Gadelha Pereira, Leonardo Alves Dias, Cleonilson Protásio de Souza
Wichtige Hinweise
Responsible Editor: V. D. Agrawal

Abstract

This paper describes the implementation of a shift-register based Built-In Self-Test (BIST) architecture for FPGA global interconnection resources testing. Through this, it is possible to configure FPGA resources that need to be tested in order to obtain high reliability FPGA-based systems. The proposed BIST approach takes advantage of FPGA low-level resources in order to generate cyclic test patterns, analyse testing response and store test results in a simple way. Additionally, the same BIST configuration set is capable of diagnosing the tested interconnection resources with no additional configurations thereby reducing time requirements. This paper presents the proposed BIST architecture and its diagnosis scheme, its implementation on a Xilinx FPGA, and experimental results.

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