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2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

9. All-Silicon Optical Technology for Contactless Testing of Integrated Circuits

verfasst von : Selahattin Sayil

Erschienen in: Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

The uniqueness of the “all-silicon optical testing methodology” lies in the fact that it is fully an optical technique utilizing visible light, and it is completely compatible with standard silicon IC processing. It uses optical signals transmitted to the circuit for “inputting” the stimulus data and also uses optical signals from the circuit for observation of the logic output. In addition, this approach is fully compatible with the simultaneous use of mechanical probes for power and other signals. The approach avoids many of the limitations of other contactless techniques.

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Metadaten
Titel
All-Silicon Optical Technology for Contactless Testing of Integrated Circuits
verfasst von
Selahattin Sayil
Copyright-Jahr
2018
Buch
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Print ISBN: 978-3-319-69672-0

Electronic ISBN: 978-3-319-69673-7

Copyright-Jahr: 2018

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7_9

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