2020 | OriginalPaper | Buchkapitel
An Ultrafast Crack Growth Lifing Model to Support Digital Twin, Virtual Testing, and Probabilistic Damage Tolerance Applications
verfasst von : Juan Ocampo, Harry Millwater, Nathan Crosby, Beth Gamble, Christopher Hurst, Michael Reyer, Sohrob Mottaghi, Marv Nuss
Erschienen in: ICAF 2019 – Structural Integrity in the Age of Additive Manufacturing
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