Analyse und Korrektur der Abbildungsfehler einer Gammakamera mit Hilfe einer Feinnadelstrahl-Quelle

Die Abbildung mit einer Gammakamera zeigt In-homogenitäten und Nichtlinearitäten. Diese in vielfältigen Ursachen zu suchenden Fehler werden in der Elektronik der Kamera mit Hilfe von Korrekturalgorithmen teilweise behoben. Die für die Korrekturalgorith-men notwendigen Daten werden durch die Abbildung ausgedehnter Phan-tome gewonnen.Ziel der Entwicklung einer hochkollimierten Nadelstrahlquelle war es, eine genau definierte Quellsituation zu besitzen. Anhand der Bilddaten, gwonnen mit einer solchen parallel zur Kamera-Oberfläche verfahrbaren Feinnadelstrahlquelle, entwickeln wir einen neuen Korrekturalgorithmus, der eine genauere differentielle Analyse der Abbildungseigenschaften der Kamera und eine entsprechende Korrektur ermöglicht. Die Ergebnisse der Studie zeigen sowohl in der experimentellen Situation als auch mit Hilfe von Monte-Carlo Simulationen sehr gute Erfolge bei der Korrektur der Abbildungsfehler.