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01.08.2014 | Technical Article | Ausgabe 4/2014

Metallography, Microstructure, and Analysis 4/2014

Analysis of Passivated A-286 Stainless Steel Surfaces for Mass Spectrometer Inlet Systems by Auger Electron and X-ray Photoelectron Spectroscopy and Scanning Electron Microscopy

Zeitschrift:
Metallography, Microstructure, and Analysis > Ausgabe 4/2014
Autoren:
Henry Ajo, Donnie Blankenship, Elliot Clark
Wichtige Hinweise
This article is an invited paper selected from presentations at the 2013 Microscopy & Microanalysis Conference, held August 4–8, 2013, in Indianapolis, Indiana, USA, and has been expanded from the original presentation.

Abstract

Various commercially available surface treatments are being explored for use on stainless steel components in mass spectrometer inlet systems. Type A-286 stainless steel coupons, approximately 12.5 mm in diameter and 3 mm thick, were passivated with one of five different surface treatments; an untreated coupon served as a control. The surface and near-surface microstructure and chemistry of the coupons were investigated using sputter depth profiling using Auger electron spectroscopy, x-ray photoelectron spectroscopy, and scanning electron microscopy (SEM). All the surface treatments studied appeared to change the surface morphology dramatically, as evidenced by lack of tool marks on the treated samples in SEM images. In terms of the passivation treatment, Vendors A-D appeared to have oxide layers that were very similar in thickness to each other (0.7–0.9 nm thick), as well as to the untreated samples (the untreated sample oxide layers appeared to be somewhat larger). Vendor E’s silicon coating appears to be on the order of 200 nm thick.

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