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Science China Technological Sciences
Erschienen in: Science China Technological Sciences 2/2014

01.02.2014 | Article

Analysis of process variations impact on the single-event transient quenching in 65 nm CMOS combinational circuits

verfasst von: TianQi Wang, LiYi Xiao, Bin Zhou, ChunHua Qi

Erschienen in: Science China Technological Sciences | Ausgabe 2/2014

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Metadaten
Titel
Analysis of process variations impact on the single-event transient quenching in 65 nm CMOS combinational circuits
verfasst von
TianQi Wang
LiYi Xiao
Bin Zhou
ChunHua Qi
Publikationsdatum
01.02.2014
Verlag
Science China Press
Erschienen in
Science China Technological Sciences / Ausgabe 2/2014
Print ISSN: 1674-7321
Elektronische ISSN: 1869-1900
DOI
https://doi.org/10.1007/s11431-013-5441-9

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