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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 9/2015

01.09.2015

Analytical bathtub curve with application to electron device reliability

verfasst von: E. Suhir

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 9/2015

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Abstract

To better understand the physics of degradation of mass-produced electron devices (ED) one has to be able to distinguish between the impact of the favorable statistics-related process resulting in lower failure rates with time and the unfavorable degradation (aging) process leading to higher failure rates. In this analysis it is shown how the degradation-related failure rate can be determined from the analytically approximated experimental bathtub curve and the predicted statistical failure rate (SFR) data. The case, when the SFR is distributed normally, is used as a suitable illustration. The suggested methodology can be employed in the design and analysis of the next ED generations. It can be used also beyond the ED field, when there is a need to assess, in various applied science problems, the roles of the two irreversible processes in question.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat D. Regis, J. Berthon, M. Gatti, “DSM reliability concerns—impact on safety assessment”, SAE technical paper 2014-01-2197, 2014 D. Regis, J. Berthon, M. Gatti, “DSM reliability concerns—impact on safety assessment”, SAE technical paper 2014-01-2197, 2014
3.
Zurück zum Zitat E. Suhir, “Mechanical reliability of flip-chip interconnections in silicon-on-silicon multichip modules”, IEEE conference on multichip modules, IEEE, Santa Cruz, Calif., March 1993 E. Suhir, “Mechanical reliability of flip-chip interconnections in silicon-on-silicon multichip modules”, IEEE conference on multichip modules, IEEE, Santa Cruz, Calif., March 1993
4.
Zurück zum Zitat I.S. Gradshneyn, I.M. Ryzhik, “Tables of Integrals, Series and Products” (Academic Press, San-Diego, CA, 1980) I.S. Gradshneyn, I.M. Ryzhik, “Tables of Integrals, Series and Products” (Academic Press, San-Diego, CA, 1980)
Metadaten
Titel
Analytical bathtub curve with application to electron device reliability
verfasst von
E. Suhir
Publikationsdatum
01.09.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 9/2015
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-015-3263-1

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