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Science China Technological Sciences
Erschienen in: Science China Technological Sciences 9/2014

01.09.2014 | Article

Analyzing and mitigating the internal single-event transient in radiation hardened flip-flops at circuit-level

verfasst von: Bin Liang, RuiQiang Song

Erschienen in: Science China Technological Sciences | Ausgabe 9/2014

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Metadaten
Titel
Analyzing and mitigating the internal single-event transient in radiation hardened flip-flops at circuit-level
verfasst von
Bin Liang
RuiQiang Song
Publikationsdatum
01.09.2014
Verlag
Science China Press
Erschienen in
Science China Technological Sciences / Ausgabe 9/2014
Print ISSN: 1674-7321
Elektronische ISSN: 1869-1900
DOI
https://doi.org/10.1007/s11431-014-5595-0

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