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Semiconductors
Erschienen in: Semiconductors 11/2018

01.11.2018 | XXII INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOPHYSICS AND NANOELECTRONICS”, NIZHNY NOVGOROD, MARCH 12–15, 2018

Application of the Locally Nonequilibrium Diffusion-Drift Cattaneo–Vernotte Model to the Calculation of Photocurrent Relaxation in Diode Structures under Subpicosecond Pulses of Ionizing Radiation

verfasst von: A. S. Puzanov, S. V. Obolenskiy, V. A. Kozlov

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 11/2018

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Abstract

The excitation-relaxation process in electron–hole plasma upon exposure to ionizing radiation for a time shorter than the relaxation time of the mobile carrier energy and momentum is considered. By the example of the calculation of transient ionization processes in a silicon hyperhigh-frequency Schottky diode, local-equilibrium and local-nonequilibrium carrier transport models are compared. It is shown that the local-nonequilibrium model features a wider field of application for describing fast relaxation processes.
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Metadaten
Titel
Application of the Locally Nonequilibrium Diffusion-Drift Cattaneo–Vernotte Model to the Calculation of Photocurrent Relaxation in Diode Structures under Subpicosecond Pulses of Ionizing Radiation
verfasst von
A. S. Puzanov
S. V. Obolenskiy
V. A. Kozlov
Publikationsdatum
01.11.2018
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 11/2018
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063782618110209

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