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01.01.2016 | Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena | Ausgabe 1/2016

Semiconductors 1/2016

Assessment of the resistance to diffusion destruction of AlAs/GaAs nanoscale resonant-tunneling heterostructures by IR spectral ellipsometry

Zeitschrift:
Semiconductors > Ausgabe 1/2016
Autoren:
M. O. Makeev, Y. A. Ivanov, S. A. Meshkov

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