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Erschienen in:
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2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

5. Atom Probe Field Ion Microscope

verfasst von : Masahiko Tomitori

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

A high electric field of greater than 0.5 V/Å can be generated over the apex of a sharpened metallic needle (tip) with a radius of less than 100 nm, by application of a voltage of higher than a few kV to the tip.

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Literatur
1.
Tsong, T.T.: Atom-Probe Field Ion Microscopy: Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution. Cambridge University Press, Cambridge (1990)CrossRef
2.
Miller, M.K., Smith, G.D.W.: Atom Probe Microanalysis: Principles and Applications to Materials Problems. Materials Research Society, Pittsburgh (1989)
Metadaten
Titel
Atom Probe Field Ion Microscope
verfasst von
Masahiko Tomitori
Copyright-Jahr
2018
Verlag
Springer Singapore
Buch
Compendium of Surface and Interface Analysis

Print ISBN: 978-981-10-6155-4

Electronic ISBN: 978-981-10-6156-1

Copyright-Jahr: 2018

DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_5

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