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Erschienen in:

2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

5. Atomic-Resolution Study of the Interfacial Bonding at Si₃N₄/CeO_2−δ Grain Boundaries

verfasst von : Weronika Walkosz

Erschienen in: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Verlag: Springer New York

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Abstract

This paper reviews minimal repair models where information is available about the condition of the system analyzed. In the traditional minimal repair model, the age of the system is not changed by the repair. When additional information is available, the concept of a minimal repair has to be generalized, and in this paper, we look closer at some of the suggestions that have been put forward. A point process framework can be used to describe the generalized minimal repair concepts. Several examples demonstrate the applications of the models for optimal replacement problems.

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Ziegler, A., Idrobo, J.C., Cinibulk, M.K., Kisielowski, C., Browning, N.D., Ritchie, R.O.: Atomic-resolution observations of semicrystalline intergranular thin films in silicon nitride. Appl. Phys. Lett. 88(4), 041919 (2006)CrossRef

Ziegler, A., Idrobo, J.C., Cinibulk, M.K., Kisielowski, C., Browning, N.D., Ritchie, R.O.: Interface structure and atomic bonding characteristics in silicon nitride ceramics. Science 306, 1768 (2004)CrossRef

Winkelman, G.B., Dwyer, C., Hudson, T.S., Nguyen-Manh, D., Döblinger, M., Satet, R.L., Hoffmann, M.J., Cockayne, J.H.: Arrangement of rare-earth elements at prismatic grain boundaries in silicon nitride. Philos. Mag. Lett. 84, 755–762 (2004)CrossRef

Shibata, N., Painter, G.S., Satet, R.L., Hoffmann, M.J., Pennycook, S.J., Becher, P.F.: Rare-earth adsorption at intergranular interfaces in silicon nitride ceramics: subnanometer observations and theory. Phys. Rev. B 72(14), 140101 (2005)CrossRef

Walkosz, W., Idrobo, J.C., Klie, R.F., Öğüt, S.: Reconstructions and nonstoichiometry of oxygenated \(\beta\) -\(\hbox{Si}_3\hbox{N}_4\,[10\overline{1}0]\) surfaces. Phys. Rev. B 78(16), 165322 (2008)CrossRef

Wu, L., Wiesmann, H.J., Moodenbaugh, A.R., Klie, R.F., Zhu, Y., Welch, D.O., Suenaga, M.: Oxidation state and lattice expansion of CeO₂—x nanoparticles as a function of particle size. Phys. Rev. B 69, 125415 (2004)CrossRef

Titel: Atomic-Resolution Study of the Interfacial Bonding at Si3N4/CeO2−δ Grain Boundaries
verfasst von: Weronika Walkosz
Verlag: Springer New York
Buch: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
Print ISBN: 978-1-4419-7816-5

Electronic ISBN: 978-1-4419-7817-2

Copyright-Jahr: 2011
DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7817-2_5

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