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ATZelektronik

Ausfallsichere E/E-Architektur für hochautomatisierte Fahrfunktionen

  • 01.06.2016
  • Titelthema
Erschienen in:
Verfasst von
Dr. Gereon Weiß
Philipp Schleiß, M.Sc.
Dipl.-Inf. Univ. Christian Drabek
Erschienen in
ATZelektronik | Ausgabe 3/2016

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Auszug

Die Hochautomatisierung erfordert neue Ansätze zur Ausfallsicherheit von Fahrzeugbordnetzen: Wird der Fahrer künftig von der Überwachung des Fahrzeugs befreit, müssen die E/E-Architekturen eine höhere Ausfallsicherheit bereitstellen. Das Fraunhofer ESK stellt einen ganzheitlichen Ansatz im Rahmen des EU-Projekts SafeAdapt vor. …

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Titel
Ausfallsichere E/E-Architektur für hochautomatisierte Fahrfunktionen
Verfasst von
Dr. Gereon Weiß
Philipp Schleiß, M.Sc.
Dipl.-Inf. Univ. Christian Drabek
Publikationsdatum
01.06.2016
Verlag
Springer Fachmedien Wiesbaden
Erschienen in
ATZelektronik / Ausgabe 3/2016
Print ISSN: 1862-1791
Elektronische ISSN: 2192-8878
DOI
https://doi.org/10.1007/s35658-016-0028-4

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