Skip to main content
main-content

Tipp

Weitere Artikel dieser Ausgabe durch Wischen aufrufen

31.10.2016 | Ausgabe 2/2019

Journal of Intelligent Manufacturing 2/2019

Automated optical inspection system for surface mount device light emitting diodes

Zeitschrift:
Journal of Intelligent Manufacturing > Ausgabe 2/2019
Autoren:
Chung-Feng Jeffrey Kuo, Tz-ying Fang, Chi-Lung Lee, Han-Cheng Wu

Abstract

Surface-mount device light emitting diode (SMD-LED) is characterized by small size, wide viewing angle and light weight. It becomes the main package type of LED gradually. The traditional visual inspection is likely to cause misrecognition due to personal subjectivity and different defect recognition standards. Therefore, this study develops an automatic SMD-LED defect detection system, which is characterized by non-contact inspection, defect recognition standardization and upgrading product quality. It detects the common and important defects in LED package components, including missing component, no chip, wire shift and foreign material. In this study the gray scale characteristic of histogram is used as the rapid sieving analysis indicator of missing component defect, and then the component and solder joint are positioned by using fast normalized cross-correlation, and the maximum correlation coefficient value is used as judgment indicator of no chip defect. In order to overcome the difficult identification as the weld line is subject to light rays, the improved Michelson-like contrast (MLC) enhancement is proposed, and the segmentation threshold is selected by entropy information to segment the weld line successfully. Furthermore, in order to overcome the effect of the tolerance of component size and internal electrode and unfixed weld line position resulted from lead frame process on foreign material detection result, the multiscale adaptive Fourier analysis (MAFA) is proposed in the concept of texture anomaly detection for foreign material defect detection. The result proves that the proposed method can segment the defect effectively and correctly compared with the phase-only transform (PHOT) and multiscale phase-only transform (MPHOT), and it can be used in other fields of texture anomaly detection. The overall recognition rate of this system is 98.25%, contributing to the large market demand and high component quality of LED industry.

Bitte loggen Sie sich ein, um Zugang zu diesem Inhalt zu erhalten

Sie möchten Zugang zu diesem Inhalt erhalten? Dann informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 69.000 Bücher
  • über 500 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Umwelt
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Testen Sie jetzt 30 Tage kostenlos.

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 50.000 Bücher
  • über 380 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Umwelt
  • Maschinenbau + Werkstoffe




Testen Sie jetzt 30 Tage kostenlos.

Literatur
Über diesen Artikel

Weitere Artikel der Ausgabe 2/2019

Journal of Intelligent Manufacturing 2/2019 Zur Ausgabe

Premium Partner

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen. 

    Bildnachweise