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Soft Computing

Erschienen in:

14.07.2017 | Focus

Automatic image thresholding using Otsu’s method and entropy weighting scheme for surface defect detection

verfasst von: Mai Thanh Nhat Truong, Sanghoon Kim

Erschienen in: Soft Computing | Ausgabe 13/2018

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Abstract

Defect detection is one of the most important tasks and a challenging problem for industrial quality control. Among the available visual inspection techniques, automatic thresholding is a commonly used approach for defect detection because of the simplicity in terms of its implementation and computing. In this paper, we propose an automatic thresholding technique, which is an improvement in Otsu’s method, using an entropy weighting scheme. The proposed method enables the detection of extremely small defect regions compared to the product surface area. Experimental results confirm the efficiency of the proposed system over other techniques.

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Titel: Automatic image thresholding using Otsu’s method and entropy weighting scheme for surface defect detection
verfasst von: Mai Thanh Nhat Truong
Sanghoon Kim
Publikationsdatum: 14.07.2017
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Erschienen in: Soft Computing / Ausgabe 13/2018
Print ISSN: 1432-7643
Elektronische ISSN: 1433-7479
DOI: https://doi.org/10.1007/s00500-017-2709-1

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