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Erschienen in:
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2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

Automatic Test Pattern Generation for Multiple Missing Gate Faults in Reversible Circuits

Work in Progress Report

verfasst von : Anmol Prakash Surhonne, Anupam Chattopadhyay, Robert Wille

Erschienen in: Reversible Computation

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

Logical reversibility is the basis for emerging technologies like quantum computing, may be used for certain aspects of low-power design, and has been proven beneficial for the design of encoding/decoding devices. Testing of circuits has been a major concern to verify the integrity of the implementation of the circuit. In this paper, we propose the main ideas of an ATPG method for detecting two missing gate faults. To that effect, we propose a systematic flow using Binary Decision Diagrams (BDDs). Initial experimental results demonstrate the efficacy of the proposed algorithms in terms of scalability and coverage of all testable faults.

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Metadaten
Titel
Automatic Test Pattern Generation for Multiple Missing Gate Faults in Reversible Circuits
verfasst von
Anmol Prakash Surhonne
Anupam Chattopadhyay
Robert Wille
Copyright-Jahr
2017
Buch
Reversible Computation

Print ISBN: 978-3-319-59935-9

Electronic ISBN: 978-3-319-59936-6

Copyright-Jahr: 2017

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-59936-6_14