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1989 | OriginalPaper | Buchkapitel

Bayes Optimal Burn-In-Times

verfasst von : C. A. Clarotti, F. Spizzichino

Erschienen in: Reliability Data Collection and Use in Risk and Availability Assessment

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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The Bayesian definition of optimal burn in procedure is given. The Bayesian approach to the burn-in problem is described in both the case of independent and in the case of dependent component failure times.

Metadaten
Titel
Bayes Optimal Burn-In-Times
verfasst von
C. A. Clarotti
F. Spizzichino
Copyright-Jahr
1989
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-83721-0_74

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.