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Erschienen in: ATZelektronik 5/2009

01.09.2009 | Software

Benutzungsorientiertes und modellzentriertes Testen im HiL-Testing

verfasst von: Gerhard Kiffe, Sebastian Siegl, Florian Prester, Dr. Martin Beisser, Martin Seel

Erschienen in: ATZelektronik | Ausgabe 5/2009

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Metadaten
Titel
Benutzungsorientiertes und modellzentriertes Testen im HiL-Testing
verfasst von
Gerhard Kiffe
Sebastian Siegl
Florian Prester
Dr. Martin Beisser
Martin Seel
Publikationsdatum
01.09.2009
Verlag
Springer Automotive Media
Erschienen in
ATZelektronik / Ausgabe 5/2009
Print ISSN: 1862-1791
Elektronische ISSN: 2192-8878
DOI
https://doi.org/10.1007/BF03223980

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