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Erschienen in:
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2001 | OriginalPaper | Buchkapitel

Boundary Condition Models for Terminal Current Fluctuations

verfasst von : M. Nedjalkov, T. Grasser, H. Kosina, S. Selberherr

Erschienen in: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2001

Verlag: Springer Vienna

Enthalten in: Professional Book Archive

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A stochastic approach to a recently proposed model of terminal current fluctuations is presented. Two kinds of boundary conditions suitable for noise simulations in semiconductor devices are proposed. The properties and the domain of application of the two models are investigated and the conclusions are drawn from numerical experiments.

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Metadaten
Titel
Boundary Condition Models for Terminal Current Fluctuations
verfasst von
M. Nedjalkov
T. Grasser
H. Kosina
S. Selberherr
Copyright-Jahr
2001
Verlag
Springer Vienna
Buch
Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2001

Print ISBN: 978-3-7091-7278-0

Electronic ISBN: 978-3-7091-6244-6

Copyright-Jahr: 2001

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-6244-6_34

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