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01.06.2010 | Ausgabe 6/2010

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 6/2010

Cobalt: a universal barrier metal for solderable under bump metallisations

Zeitschrift:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics > Ausgabe 6/2010
Autor:
Giles Humpston

Abstract

Published data augmented by new work suggests that cobalt is a suitable constituent of many under bump metallisations, its function being as the barrier metal. This stems from the combination of cobalt’s high wettability by and low solubility in, molten solders, together with the slow rate of growth and favourable mechanical properties of the interfacial intermetallic compounds formed. Although other metals and alloys exhibit similar characteristics, the range of compatible solders is always limited. Cobalt appears to be suitable for use with low melting point bismuth- and indium-based filler metals, lead–tin eutectic, lead-free and high melting point lead-based alloys, as well as the gold-rich solder family.

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