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01.04.2014 | Physics of Semiconductor Devices | Ausgabe 4/2014

Semiconductors 4/2014

Current flow through metal shunts in ohmic contacts to n +-Si

Zeitschrift:
Semiconductors > Ausgabe 4/2014
Autoren:
A. V. Sachenko, A. E. Belyaev, V. A. Pilipenko, T. V. Petlitskaya, V. A. Anischik, N. S. Boltovets, R. V. Konakova, Ya. Ya. Kudryk, A. O. Vinogradov, V. N. Sheremet

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