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Journal of Electronic Testing

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Special Issue on International Conference on VLSI Design and Embedded Systems

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Special Issue on Analog, Mixed-Signal and RF Testing

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Special Issue on Verification and Testing Challenges in Future Microprocessor and SoC Designs
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Special Issue on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale (MEDIAN)

2012 (Band 28 | 6 Ausgaben)

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Special Issue on Testing of Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits

2011 (Band 27 | 6 Ausgaben)

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Apr 10

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Special Issue on High-Level Design Validation and Test; Guest Editor: Prabhat Mishra
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Special Issue on Analog, Mixed-Signal and RF Testing; Guest Editor: Karim Arabi

2009 (Band 25 | 4 Ausgaben)

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Special Issue on Defect and Tolerance; Guest Editors Cristiana Bolchini and Yong-Bin Kim

2008 (Band 24 | 4 Ausgaben)

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Special Issue on Low Power Test; Guest Editors: Nicola Nicolici and Patrick Girard
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Special Issue on Defect and Fault Tolerance; Guest Editors: Nur A. Touba, Adelio Salsano, and Minsu Choi

2007 (Band 23 | 5 Ausgaben)

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SPECIAL ISSUE ON ANALOG, MIXED-SIGNAL AND RF TESTING

2006 (Band 22 | 4 Ausgaben)

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Special Issue on On-Line-Testing and Fault Tolerance

2004 (Band 20 | 6 Ausgaben)

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Special Issue on the Third IEEE Latin-American Test Workshop