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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 8/2014

01.08.2014

Defects Study in Hg x Cd1−x Te Infrared Photodetectors by Deep Level Transient Spectroscopy

verfasst von: Laurent Rubaldo, Alexandre Brunner, Jocelyn Berthoz, N. Péré-Laperne, A. Kerlain, P. Abraham, D. Bauza, G. Reimbold, Olivier Gravrand

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 8/2014

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Metadaten
Titel
Defects Study in Hg x Cd1−x Te Infrared Photodetectors by Deep Level Transient Spectroscopy
verfasst von
Laurent Rubaldo
Alexandre Brunner
Jocelyn Berthoz
N. Péré-Laperne
A. Kerlain
P. Abraham
D. Bauza
G. Reimbold
Olivier Gravrand
Publikationsdatum
01.08.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 8/2014
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-014-3226-y

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