Skip to main content
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 8/2020

25.05.2020

Dependence of the Appearance of Crystal Acentricity on the Chemical Composition of Complex Inorganic Compounds and the Prediction of New Thiosilicates and Thiophosphates

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 8/2020

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadaten
Titel
Dependence of the Appearance of Crystal Acentricity on the Chemical Composition of Complex Inorganic Compounds and the Prediction of New Thiosilicates and Thiophosphates
Publikationsdatum
25.05.2020
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 8/2020
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-020-08222-7

Weitere Artikel der Ausgabe 8/2020

Journal of Electronic Materials 8/2020 Zur Ausgabe

Topical Collection: 19th International Conference on II-VI Compounds

MgxZn1−xO Prepared by the Sol–Gel Method and Its Application for Ultraviolet Photodetectors

Topical Collection: 19th International Conference on II-VI Compounds

Temperature-Dependent Crystallization of Ga2O3 for Ultraviolet Photodetectors

Topical Collection: 19th International Conference on II-VI Compounds

Ag Localized Surface Plasma-Modulated NBE Emissions from ZnCdO Thin Films

Topical Collection: 19th International Conference on II-VI Compounds

p-Type Nonpolar a-ZnO:N Thin Films on r-Sapphire Substrates Grown by Molecular Beam Epitaxy

Neuer Inhalt