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2012 | OriginalPaper | Buchkapitel

6. Detection of the Cantilever Deflection by Microscopy

verfasst von : Gyözö G. Láng, Cesar A. Barbero

Erschienen in: Laser Techniques for the Study of Electrode Processes

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Abstract

In Chap. 6, advantages and limitations of some nonoptical techniques (e.g., scanning tunneling microscopy) used for the experimental determination of changes in cantilever deflection or for the measurement of the deformation of thin plates/disks in electrochemical systems are discussed. Typical experimental arrangements have been presented. Possible sources of errors (interaction forces between surfaces, clamping of probes, contact angles, design of the electrochemical cells) have been analyzed.

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Metadaten
Titel
Detection of the Cantilever Deflection by Microscopy
verfasst von
Gyözö G. Láng
Cesar A. Barbero
Copyright-Jahr
2012
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Laser Techniques for the Study of Electrode Processes

Print ISBN: 978-3-642-27650-7

Electronic ISBN: 978-3-642-27651-4

Copyright-Jahr: 2012

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-27651-4_6

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