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01.10.2013 | Ausgabe 1-2/2013

Journal of Electroceramics 1-2/2013

Determination of optical band gap of ZnO:ZnAl2O4 composite semiconductor nanopowder materials by optical reflectance method

Zeitschrift:
Journal of Electroceramics > Ausgabe 1-2/2013
Autoren:
C. Aydın, M. Benhaliliba, Ahmed A. Al-Ghamdi, Zarah H. Gafer, Farid El-Tantawy, F. Yakuphanoglu

Abstract

ZnO:ZnAl2O4 composite semiconductor nanopowder materials were synthesized by sol gel method. X-ray diffraction results reveal that Al doped ZnO samples have a polycrystalline hexagonal structure with a = 3.2506 Å, c = 5.2079 Å lattice parameters. The crystallite size of the ZnO samples is decreased with increasing Al content. Atomic force microscope results indicate the presence of micro/nanohexagons with different sizes from 128 to 166 nm. Optical band gap of the ZnO samples is decreased and reaches a low value of 2.82 eV for 20 % Al. The electrical conductivity dependence of temperature confirms that ZnO:ZnAl2O4 composite semiconductor nanopowder materials exhibit semiconductor behavior.

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