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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 3/2017

18.10.2016

Dielecric relaxation and conduction mechanism of dysprosium doped barium bismuth titanate Aurivillius ceramics

verfasst von: T. Badapanda, R. Harichandan, T. B. Kumar, S. R. Mishra, S. Anwar

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 3/2017

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Abstract

In this report, we present the structure, electrical properties and optical study of dysprosium doped bismuth layer-structured BaBi4Ti4O15 (BBT) with a general formula Ba(Bi1−xDyx)4Ti4O15 (BDBT), prepared by solid state reaction route. The X-ray diffraction study shows a single phase orthorhombic structure with a space group A21 am in all compositions. The relaxation and conduction mechanism was studied by frequency and temperature dependent impedance spectroscopy. Impedance studies show a non-Debye type relaxation, and relaxation frequency shift to the higher side with an increase in temperature indicating conduction in material and favouring the long range motion of mobile charge carriers. The Nyquist plot shows overlapping semicircles, for grain and grain boundary of Dy doped BBT ceramics. The Kohlrausch–Williams–Watts function is used to explain the modulus analysis and confirms the coexistence of grain and grain boundary effects. The frequency dependent AC conductivity at different temperatures indicates that the conduction process is thermally activated and the spectra follow the universal power law. The variation of DC conductivity confirms that the BDBT ceramics exhibit negative temperature coefficient of resistance behaviour in high temperature. Activation energies are obtained from the Arrhenius fitting of impedance and conductivity plots.

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Metadaten
Titel
Dielecric relaxation and conduction mechanism of dysprosium doped barium bismuth titanate Aurivillius ceramics
verfasst von
T. Badapanda
R. Harichandan
T. B. Kumar
S. R. Mishra
S. Anwar
Publikationsdatum
18.10.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 3/2017
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-016-5858-6

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