Zum Inhalt
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in:

04.08.2016

Doped tin induced structural evaluation and performance of CH3NH3PbxSn1-xI3 thin films prepared by a simple route of unisource thermal evaporation

verfasst von: Julong Chen, Ping Fan, Guangxing Liang, Di Gu, Jingting Luo, Zhuanghao Zheng, Jun Zhao, Dongping Zhang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 12/2016

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

The photoelectric conversion efficiency of organic–inorganic halide perovskite solar cell has made a great progress in recent years. In this paper, we attempted to gradually replace lead with tin and synthesize perovskite thin films of different lead–tin proportion with a unisource thermal evaporation method. The morphology, crystallinity and transmittance of the perovskite thin films were studied for revealing the effect of different lead and tin proportion on the properties of the perovskite thin films. The results show that the morphology was ameliorated and the crystallinity of CH3NH3Pb0.4Sn0.6I3 thin film was improved. The absorption edge of CH3NH3Pb0.7Sn0.3I3 was moved to the long wavelength. The surface of the perovskite thin films was smoother and the quality of the thin films has been greatly improved.
Vorheriger Artikel Electrical properties of Ca0.925Ce0.075Mn1−xFexO3 (x = 0.1–0.3) prepared by sol–gel technique
Nächster Artikel Enhancement of thermal stability and reliability of BaxSr2−xSiO4:Eu2+ phosphors by Ba2+ doping

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Literatur
Dieser Inhalt ist nur sichtbar, wenn du eingeloggt bist und die entsprechende Berechtigung hast.
Metadaten
Titel
Doped tin induced structural evaluation and performance of CH3NH3PbxSn1-xI3 thin films prepared by a simple route of unisource thermal evaporation
verfasst von
Julong Chen
Ping Fan
Guangxing Liang
Di Gu
Jingting Luo
Zhuanghao Zheng
Jun Zhao
Dongping Zhang
Publikationsdatum
04.08.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 12/2016
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-016-5465-6

Weitere Artikel der Ausgabe 12/2016

The optical and electrical transport studies of ZnxCo1−xS thin films

Synthesis and microwave absorption enhancement of polyaniline/SrFe12O19/hollow glass microsphere composite with core–shell structure

Effect of sintering temperature on the crystallization behavior and properties of silica filled PTFE composites

Enhancement of thermal stability and reliability of BaxSr2−xSiO4:Eu2+ phosphors by Ba2+ doping

Effect of grain size on dielectric and piezoelectric properties of bismuth layer structure CaBi2Nb2O9 ceramics

Study of electrical properties of hafnium oxide thin film based metal–insulator–metal capacitors: pre and post metallic annealing