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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 4/2016

20.07.2016

Editorial

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 4/2016

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Excerpt

In October 2012, we published a special issue on mixed-signal test (JETTA, volume 28, number 5). Now, four years later, we return to that theme. Several of the industry trends have moved forward. The system-on-chip (SoC) devices are integrating more radio frequency (RF) stuff. The ability to integrate is enhanced with 3D-stacking. As a result, concerns about test time and yield enhancement have deepened. …
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Metadaten
Titel
Editorial
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
20.07.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 4/2016
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-016-5609-x

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