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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 1/2018

07.02.2018

Editorial

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 1/2018

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The topics discussed in this issue are fault tolerance, reliability, built-in test, multiple faults, online test and post-silicon validation. Parts of the paper appearing fifth here were presented at the Eighteenth IEEE Latin American Test Symposium (LATS) held during March 13–15, 2017 in Bogota, Columbia. …
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Metadaten
Titel
Editorial
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
07.02.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 1/2018
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-018-5712-2

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