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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2/2019

23.03.2019

Editorial

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2019

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This issue carries ten articles, including three JETTA Letters. They cover thermal effects, fault tolerance, verification and debugging, resistive faults, hardware Trojan, network-on-chip (NoC) testing, planar magnetic measurement, digital bus repeater, and aging due to bias temperature instability (BTI). Parts of the third and fourth papers first appeared at the Nineteenth IEEE Latin American Test Symposium (LATS) held during March 12–16, 2018 in Sao Paolo, Brazil. …
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Metadaten
Titel
Editorial
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
23.03.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2019
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-019-05793-0

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