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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 5/2019

17.10.2019

Editorial

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 5/2019

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I am pleased to announce the 2018 JETTA-TTTC Best Paper Award. We congratulate the winning authors, Shyue-Kung Lu, Hao-Cheng Jheng, Hao-Wei Lin and Masaki Hashizume, for their paper “Address Remapping Techniques for Enhancing Fabrication Yield of Embedded Memories,” that appeared in Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Volume 34, Number 4, pp. 435–446, August 2018. See details following this editorial. …
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Metadaten
Titel
Editorial
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
17.10.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 5/2019
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-019-05835-7

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