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verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 3/2022

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This issue contains seven articles. Three focus on hardware security, and one each on analog and mixed-signal test, software test and verification, soft errors, and built-in self-test. …

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Titel: Editorial
verfasst von: Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum: 20.07.2022
Verlag: Springer US
Erschienen in: Journal of Electronic Testing / Ausgabe 3/2022
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI: https://doi.org/10.1007/s10836-022-06015-w

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