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Erschienen in: Journal of Electronic Testing 5/2022

02.11.2022

Editorial

JETTA Volume 38, Number 5, October 2022

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 5/2022

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I am pleased to announce the 2021 JETTA-TTTC Best Paper Award. The award selection committee consisted of Xiaoqing Wen (Chair), Nicola Nicolici, Jennifer Dworak, Jiun-Lang Huang, and Erik Larsson. We congratulate the winning authors, Thiago Copetti, Guilherme Cardoso Medeiros, Mottaqiallah Taouil, Said Hamdioui, Letícia Bolzani Poehls, and Tiago Balen. Their winning paper, “Evaluation of Single Event Upset Susceptibility of FinFET‑based SRAMs with Weak Resistive Defects,” appeared in JETTA, Volume 37, Number 3, pages 383-394, June 2021. …
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Metadaten
Titel
Editorial
JETTA Volume 38, Number 5, October 2022
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
02.11.2022
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 5/2022
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-022-06032-9

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