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Erschienen in: Journal of Electronic Testing 4/2013

01.08.2013

Editorial

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 4/2013

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The first three papers in this issue complete our Special Issue on Defect and Fault Tolerance, put together by Guest Editors, Prashant Joshi and Massimo Violante. The complete set contains 16 papers, of which the first 13 appeared in the last issue of JETTA (volume 29, number 3, June 2013). That issue also contains a Guest Editorial. …

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Metadaten
Titel
Editorial
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
01.08.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 4/2013
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-013-5402-z

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