Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
SLX-Digitalkonferenz: Zukunftswerkstatt 2024

Mehr Umsatz mit Top-Kontakten

Am 7. Mai erfahren Sie, wie Vertriebsteams Leadgenerierung, Leadnurturing und Leadstrategien effizient steuern können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 6/2013

01.12.2013

Editorial

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 6/2013

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Excerpt

The JETTA Editorial Board meeting in Anaheim, California on September 11, 2013 was attended by (left to right in the photograph, standing) Xiaowei Li, Magdy Abadir, Michel Renovell, Mohammad Tehranipoor, Jacob Abraham, Krishnendu Chakrabarty, Shawn Blanton, Yervant Zorian, Peter Maxwell, Haralampos Stratigopoulos, Stephen Sunter, Adit Singh, Sybille Hellebrand, Alex Orailoglu, Hans Manhaeve (Guest Editor), Hans-Joachim Wunderlich, Erik Jan Marinissen, Charles Glaser (Springer), and (sitting) Vishwani Agrawal. I will summarize the proceedings of the meeting in the next issue. …
Nächster Artikel Test Technology Newsletter

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Weitere Produktempfehlungen anzeigen
Metadaten
Titel
Editorial
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
01.12.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 6/2013
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-013-5424-6

Weitere Artikel der Ausgabe 6/2013

Journal of Electronic Testing 6/2013 Zur Ausgabe

OriginalPaper

Autonomous Fault-Tolerant Systems onto SRAM-based FPGA Platforms

OriginalPaper

Physics-Based Low-Cost Test Technique for High Voltage LDMOS

OriginalPaper

Effective Timing Error Tolerance in Flip-Flop Based Core Designs

OriginalPaper

Survey and Evaluation of Automated Model Generation Techniques for High Level Modeling and High Level Fault Modeling

OriginalPaper

MoDiVHA: A Hierarchical Strategy for Distributed Test Assignment

OriginalPaper

Efficient Test Compression Technique for SoC Based on Block Merging and Eight Coding

Neuer Inhalt

    Bildnachweise