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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2/2015

01.04.2015

Editorial

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2015

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Excerpt

This issue contains six papers and two Letters. The topics covered are mixed-signal test, microprocessor reliability, system verification, and soft errors. The first paper is derived from the program of the Asian Test Symposium (ATS) of 2013 and the next three papers were first presented at the IEEE Latin American Test Workshop (LATW) of 2014. I would like to thank the two Guest Editors Jiun-Lang Huang (ATS) and Leticia M. B. Poehls (LATW). …
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Metadaten
Titel
Editorial
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
01.04.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2015
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-015-5522-8

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