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Effect of boundary conditions on fatigue life of board-level BGA solder joints under random vibration

  • 30.09.2023
  • Technical Paper
Erschienen in:

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Abstract

Die Studie untersucht den Einfluss von Randbedingungen auf die Lebensdauer von BGA-Lötstellen auf Leiterplattenebene, die willkürlichen Vibrationen ausgesetzt sind. Durch die Durchführung einer Sinus-Sweep-Vibrations-FEE- und Ermüdungsversager-Experimente entwickeln die Autoren eine S-N-Kurve für SAC302-Lötkugeln. Anschließend wenden sie die Steinberg-Drei-Band-Methode an, um die Lebensdauer von Lötstellen unter zwei unterschiedlichen Randbedingungen vorherzusagen: nur Schraubverbindungen und Schraubverbindungen mit Unterlegscheiben. Die Ergebnisse zeigen, dass der Einbau von Unterlegscheiben die Lebensdauer der Lötstellen sowohl experimentell als auch numerisch signifikant erhöht. Diese Forschung trägt dazu bei, die Ermüdungslebensdauer von Lötstellen in elektronischen Geräten zu erhöhen, wodurch sie für Fachleute auf diesem Gebiet unverzichtbar wird.

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Titel
Effect of boundary conditions on fatigue life of board-level BGA solder joints under random vibration
Verfasst von
Hyunsik Jeong
Kwangwon Seo
Jinsoo Bae
Gunhee Jang
Publikationsdatum
30.09.2023
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Erschienen in
Microsystem Technologies / Ausgabe 11/2023
Print ISSN: 0946-7076
Elektronische ISSN: 1432-1858
DOI
https://doi.org/10.1007/s00542-023-05532-8
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