01.10.2014
Effect of film thickness and annealing on optical properties of TiO2 thin films and electrical characterization of MOS capacitors
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 10/2014
EinloggenAktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by