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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 1/2014

01.01.2014

Effect of gas enhanced metal-semiconductor-metal UV photodetectors based on thermal annealing tungsten oxide thin film prepared by sol–gel method

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 1/2014

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Abstract

Metal-semiconductor-metal ultraviolet photodetectors were fabricated on annealed tungsten oxide thin films which were synthesized by the sol–gel reaction. Surface morphology, microstructure, opto-electrical properties and crystal structure tests of the W18O49 thin films were examined by scanning electron microscopy, transmission, photoluminescence, and X-ray diffraction, respectively. The photo-responsivity of the photodetector shows a dependence on atmosphere environments. The photocurrent measured in a vacuum is about ~2 times higher than the illuminated photocurrent in air. The illumination conductance in a vacuum and in air increase by a factor of 100 compared to that in oxygen ambient. Furthermore, the obtained photoresponse curves showed significant changes in dark, under illumination, and during recovery for gas switching experiment. The solid-state process of electron-hole generation/recombination and surface effects of oxygen was discussed to explain the changes in the observed photoresponse.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat H.M.A. Soliman, A.B. Kashyout, Mohamed S. El Nouby, A.M. Abosehly, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 21, 12 (2010)CrossRef H.M.A. Soliman, A.B. Kashyout, Mohamed S. El Nouby, A.M. Abosehly, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 21, 12 (2010)CrossRef
2.
Zurück zum Zitat R. Baetens, B.P. Jelle, A. Gustavsen, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 94 (2010) R. Baetens, B.P. Jelle, A. Gustavsen, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 94 (2010)
3.
Zurück zum Zitat T. Siciliano, A. Tepore, G. Micocci, A. Serra, D. Manno, and E. Filippo, Sens. Actuators B 133 (2008) T. Siciliano, A. Tepore, G. Micocci, A. Serra, D. Manno, and E. Filippo, Sens. Actuators B 133 (2008)
4.
Zurück zum Zitat M. Di Giulio, D. Manno, G. Micocci, A. Serra, A. Tepore, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 9, 4 (1998)CrossRef M. Di Giulio, D. Manno, G. Micocci, A. Serra, A. Tepore, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 9, 4 (1998)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat J. He, Q.Z. Cai, D. Zhu, Q. Luo, D.Q. Zhang, X.W. Li, X. Zhao, W. Sun, Curr. Appl. Phys. 11, 1 (2011)CrossRef J. He, Q.Z. Cai, D. Zhu, Q. Luo, D.Q. Zhang, X.W. Li, X. Zhao, W. Sun, Curr. Appl. Phys. 11, 1 (2011)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat L. Zou, Q. Zhong, Q. Liu, J. Rare Earth. 24 (2006) L. Zou, Q. Zhong, Q. Liu, J. Rare Earth. 24 (2006)
7.
Zurück zum Zitat M.T. Chang, L.J. Chou, Y.L. Chueh, Y.C. Lee, C.H. Hsieh, C.D. Chen, Y.W. Lan, L.J. Chen, small 3, 4 (2007)CrossRef M.T. Chang, L.J. Chou, Y.L. Chueh, Y.C. Lee, C.H. Hsieh, C.D. Chen, Y.W. Lan, L.J. Chen, small 3, 4 (2007)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat K. Huang, Q. Zhang, F. Yang, D. He, Nano. Res. 3 (2010) K. Huang, Q. Zhang, F. Yang, D. He, Nano. Res. 3 (2010)
9.
Zurück zum Zitat Dong-Sing Wuu, Shun-Chen Hsu, Ray-Hua Horng, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 15, 12 (2004)CrossRef Dong-Sing Wuu, Shun-Chen Hsu, Ray-Hua Horng, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 15, 12 (2004)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat P. Feng, J.Y. Zhang, Q.H. Li, T.H. Wang, Appl. Phys. Lett. 88 (2006) P. Feng, J.Y. Zhang, Q.H. Li, T.H. Wang, Appl. Phys. Lett. 88 (2006)
11.
Zurück zum Zitat Salwan K.J. Al-Ani, Raid A. Ismail, Hana F.A. Al-Ta’ay, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 17, 10 (2006)CrossRef Salwan K.J. Al-Ani, Raid A. Ismail, Hana F.A. Al-Ta’ay, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 17, 10 (2006)CrossRef
12.
Zurück zum Zitat C.A. Smith, H.W.H. Lee, V.J. Leppert, S.H. Risbud, Appl. Phys. Lett. 75, 12 (1999) C.A. Smith, H.W.H. Lee, V.J. Leppert, S.H. Risbud, Appl. Phys. Lett. 75, 12 (1999)
13.
Zurück zum Zitat K. Yoshimura, H. Watanabe, Y. Yamada, T. Taguchi, F. Sasaki, S. Kobayashi, T. Tani, J. Cryst. Growth 184 (1998) K. Yoshimura, H. Watanabe, Y. Yamada, T. Taguchi, F. Sasaki, S. Kobayashi, T. Tani, J. Cryst. Growth 184 (1998)
14.
Zurück zum Zitat H. Kind, H. Yan, B. Messer, M. Law, P. Yang, Adv. Mater. 14, 2 (2002)CrossRef H. Kind, H. Yan, B. Messer, M. Law, P. Yang, Adv. Mater. 14, 2 (2002)CrossRef
15.
Zurück zum Zitat Yangang Han, Wu Linlin, Gu Hang, Hongbo Chen, Zheng Zhang, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 24, 4 (2013) Yangang Han, Wu Linlin, Gu Hang, Hongbo Chen, Zheng Zhang, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 24, 4 (2013)
16.
Zurück zum Zitat J.Y. Zhang, Y.X. Chen, T.L. Guo, Z.X. Lin, T.H. Wang, Nanotechnology 18 (2007) J.Y. Zhang, Y.X. Chen, T.L. Guo, Z.X. Lin, T.H. Wang, Nanotechnology 18 (2007)
17.
Zurück zum Zitat P. Iamraksa, N.S. Lloyd, D.M. Bagnall, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 19, 2 (2008)CrossRef P. Iamraksa, N.S. Lloyd, D.M. Bagnall, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 19, 2 (2008)CrossRef
18.
Zurück zum Zitat C.S. Rout, A. Govindraj, C.N.R. Rao, J. Mater. Chem. 16 (2006) C.S. Rout, A. Govindraj, C.N.R. Rao, J. Mater. Chem. 16 (2006)
19.
Zurück zum Zitat J. Livage, D. Ganguli, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 68 (2001) J. Livage, D. Ganguli, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 68 (2001)
20.
Zurück zum Zitat Xiangan Lin, Jinchai Li, Junyong Kang, Semicond. Sci. Technol. 25 (2010) Xiangan Lin, Jinchai Li, Junyong Kang, Semicond. Sci. Technol. 25 (2010)
21.
22.
23.
Zurück zum Zitat Y.C. Liu, Y.W. Chen, C.L. Shao, S.X. Lu, J. Sol-Gel Sci. Technol. 39, 57 (2006)CrossRef Y.C. Liu, Y.W. Chen, C.L. Shao, S.X. Lu, J. Sol-Gel Sci. Technol. 39, 57 (2006)CrossRef
24.
25.
Zurück zum Zitat Q.H. Li, T. Gao, Y.G.Wang, T.H.Wang, Appl. Phys. Lett. 86 (2005) Q.H. Li, T. Gao, Y.G.Wang, T.H.Wang, Appl. Phys. Lett. 86 (2005)
26.
Zurück zum Zitat O. Harnack, C. Pacholski, H. Weller, A. Yasuda, J.M. Wessels, Nano Lett. 3 (2003) O. Harnack, C. Pacholski, H. Weller, A. Yasuda, J.M. Wessels, Nano Lett. 3 (2003)
27.
Zurück zum Zitat Y.W. Heo, B.S. Kang, L.C. Tien, D.P. Norton, F.Ren, J.R. La Roche, S.J. Pearton, Appl. Phys. A 80 (2005) Y.W. Heo, B.S. Kang, L.C. Tien, D.P. Norton, F.Ren, J.R. La Roche, S.J. Pearton, Appl. Phys. A 80 (2005)
28.
Zurück zum Zitat O. Berger, T. Hoffmann, W.-J. Fischer, V. Melev, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 15, 7 (2004) O. Berger, T. Hoffmann, W.-J. Fischer, V. Melev, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 15, 7 (2004)
30.
Zurück zum Zitat Y. Li, F.D. Valle, M. Simonnet, I. Yamada, J.-J. Delaunay, Appl. Phys. Lett 94 (2009) Y. Li, F.D. Valle, M. Simonnet, I. Yamada, J.-J. Delaunay, Appl. Phys. Lett 94 (2009)
Metadaten
Titel
Effect of gas enhanced metal-semiconductor-metal UV photodetectors based on thermal annealing tungsten oxide thin film prepared by sol–gel method
Publikationsdatum
01.01.2014
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 1/2014
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1602-7

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