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Erschienen in:

2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

13. Electrochemical Atomic Force Microscopy

verfasst von : Toru Utsunomiya, Yasuyuki Yokota, Ken-ichi Fukui

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Atomic force microscopy (AFM) can image the surfaces of flat materials, irrespective of their conductivity. The sample is usually imaged in air, but can be in liquid environments and under vacuum, as described in other chapters (Chaps. 6, and 55). AFM has also been applied to the electrode/electrolyte interfaces, since its invention.

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Titel: Electrochemical Atomic Force Microscopy
verfasst von: Toru Utsunomiya
Yasuyuki Yokota
Ken-ichi Fukui
Verlag: Springer Singapore
Buch: Compendium of Surface and Interface Analysis
Print ISBN: 978-981-10-6155-4

Electronic ISBN: 978-981-10-6156-1

Copyright-Jahr: 2018
DOI: https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_13

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