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Published in: Journal of Electronic Testing 6/2016

11-11-2016

2015 JETTA-TTTC Best Paper Award

Published in: Journal of Electronic Testing | Issue 6/2016

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Excerpt

Nicholas Tzou, Debesh Bhatta, Barry J. Muldrey Jr., Thomas Moon, Xian Wang, Hyun Choi and Abhijit Chatterjee, “Low Cost Sparse Multiband Signal Characterization Using Asynchronous Multi-Rate Sampling: Algorithms and Hardware,” Journal of Electronic Testing: Theory and Applications , Volume 31, Number 1, pp. 85–98, February 2015.

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Metadata
Title
2015 JETTA-TTTC Best Paper Award
Publication date
11-11-2016
Publisher
Springer US
Published in
Journal of Electronic Testing / Issue 6/2016
Print ISSN: 0923-8174
Electronic ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-016-5627-8

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