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Journal of Electronic Testing

14-11-2015

Editorial

Author: Vishwani D. Agrawal

Published in: Journal of Electronic Testing

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Excerpt

We have selected a paper for the 2014 JETTA-TTTC Best Paper Award. The award committee appointed by the Test Technology Technical Council (TTTC) Chair, Michael Nicolaidis, was the same as in 2013 and consisted of Matteo Sonza Reorda (Chair), Vishwani Agrawal, Salvador Mir, Adit Singh and Xiaoqing Wen. We congratulate the winning authors, Rafal Baranowski, Michael A. Kochte and Hans-Joachim Wunderlich. Their paper, “Access Port Protection for Reconfigurable Scan Networks,” appeared in JETTA, Volume 30, Number 6, pages 711–723, December 2014. See the award page in this issue. The award will be presented this month at the International Test Conference in Anaheim, California. …

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Metadata
Title
Editorial
Author
Vishwani D. Agrawal
Publication date
14-11-2015
Publisher
Springer US
Published in
Journal of Electronic Testing
Print ISSN: 0923-8174
Electronic ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-015-5553-1