Skip to main content
Top
Published in: Journal of Electronic Materials 8/2016

24-05-2016

Enhancement of Electron Transfer in Various Photo-Assisted Oxidation Processes for Nitro-Phenolic Compound Conversion

Authors: Do Ngoc Khue, Tran Dai Lam, Do Binh Minh, Vu Duc Loi, Nguyen Hoai Nam, Vu Quang Bach, Nguyen Van Anh, Nguyen Van Hoang, Dao Duy Hu’ng

Published in: Journal of Electronic Materials | Issue 8/2016

Log in

Activate our intelligent search to find suitable subject content or patents.

search-config
loading …

Dont have a licence yet? Then find out more about our products and how to get one now:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadata
Title
Enhancement of Electron Transfer in Various Photo-Assisted Oxidation Processes for Nitro-Phenolic Compound Conversion
Authors
Do Ngoc Khue
Tran Dai Lam
Do Binh Minh
Vu Duc Loi
Nguyen Hoai Nam
Vu Quang Bach
Nguyen Van Anh
Nguyen Van Hoang
Dao Duy Hu’ng
Publication date
24-05-2016
Publisher
Springer US
Published in
Journal of Electronic Materials / Issue 8/2016
Print ISSN: 0361-5235
Electronic ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-016-4576-4

Other articles of this Issue 8/2016

Journal of Electronic Materials 8/2016 Go to the issue