Über das neue Rasterelektronenmikroskop am WesterWaldCampus freuten sich Vertreter aus Wirtschaft, Politik und Wissenschaft zusammen mit Prof. Dr. Olaf Krause (Prodekan Fachbereich bauen-kunst-werkstoffe, Mitte).
Hochschule Koblenz/Olaf Schepers
Zum Festakt am 8. Juni 2018 waren hochrangige Vertreter aus Wirtschaft und Politik gekommen.
Das neue Rasterelektronennmikroskop (REM), ein JEOL JSM-7200F des Unternehmens Zeiss, setzt neue analytische Maßstäbe für die Erforschung anorganisch nichtmetallischer Werkstoffe. Der wissenschaftlich-technologische Vorsprung beruht neben der hoch auflösenden Feldemissionsmikroskopie auch auf dem neuen Soft X-Ray Emission Spectrometer (SXES), das sehr leistungsstark ist und eine hohe Energieauflösung hat. Dies ermöglicht punktgenaue Elementaranalytik mit bisher unerreichtem Auflösungsvermögen für leichte Elemente.
Es können Elementspektren von Lithium, Bor, Kohlenstoff, Stickstoff und Sauerstoff gemessen sowie deren chemische Bindung analysiert werden. Dies sei ein wichtiger Meilenstein für die Infrastruktur von Spitzenforschung in Rheinland-Pfalz, unterstrich Prof. Dr. rer. nat. Olaf Krause, Prodekan des Fachbereichs bauen-kunst-werkstoffe der Hochschule Koblenz. Unter seiner Leitung ist dieses Projekt in enger Kooperation mit dem Forschungsinstitut für anorganische Werkstoffe – Glas/Keramik – GmbH (FGK) realisiert worden.
Im Rahmen des Forschungsschwerpunktes „Analytische Bildgebung“ strebt die Hochschule Koblenz den Aufbau eines Mikroanalyse-Kompetenzzentrums am WesterWaldCampus an. Hierbei handelt es sich um eines von acht Projekten an sechs rheinland-pfälzischen Hochschulen, die durch die Carl-Zeiss-Stiftung im Rahmen des Programms „Carl-Zeiss-Stiftung Invest“ gefördert werden.